Sapphire热流型差示扫描量热仪

大概介绍：采用热流型设计原理，其结构精致而简单，操作方便，性能*。对于质量控制和材料研究Z为理想。

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版本更新事件：2024-05-05
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物理分析仪器

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Sapphire热流型差示扫描量热仪

采用热流型设计原理，其结构精致而简单，操作方便，性能*。对于质量控制和材料研究zui为理想。可用于测量材料的熔点、玻璃化温度、结晶度、固化度、纯度、比热、反应动力学、热稳定性、相转变温度等参数。
产品特点
·采用保护的椭圆形量热传感器
·炉体坚固耐用，抗腐蚀性强
·DSC基线及其平稳
·具有*的Highway TA热分析模拟软件可供选择
·具有多种冷却附件可供选择
·可选配样品自动进样器

·温度范围：-170--725゜C（样品实际能够达到的测试温度）
·温度准确度：±0.1゜C
·温度精度：±0.02゜C
·量热准确度：± 1%
·量热精度：±0.5%
·扫描速率：0.01-100゜C/min

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